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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Parasitic Effects in Multi-Gate MOSFETs 
著者
和文: Yusuke Kobayashi, C. Raghunathan Manoj, 筒井 一生, Venkanarayan Hariharan, 角嶋 邦之, V.Ramgopal Rao, AHMET PARHAT, 岩井 洋.  
英文: Yusuke Kobayashi, C. Raghunathan Manoj, Kazuo Tsutsui, Venkanarayan Hariharan, Kuniyuki Kakushima, V.Ramgopal Rao, Parhat Ahmet, Hiroshi Iwai.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:IEICE TRANS. ELECTRON 
巻, 号, ページ Vol. E90-C    No. 10    pp. 2051-2056
出版年月 2007年10月 
出版者
和文: 
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会議名称
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開催地
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英文: 
DOI https://doi.org/10.1093/ietele/e90-c.10.2051

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