High-resolution electron microscopy of microstructure of MnF2 subjected to shock compression at 4.4 GPa

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	High-resolution electron microscopy of microstructure of MnF2 subjected to shock compression at 4.4 GPa

著者

和文:	近藤建一, K. Yubuta, T. Hongo, T. Atou, K.G. Nakamura, K. Kondo, M. Kikuchi.
英文:	KEN-ICHI KONDO, K. Yubuta, T. Hongo, T. Atou, K.G. Nakamura, K. Kondo, M. Kikuchi.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Solid State Communications

巻, 号, ページ

vol. 143 pp. 127-130

出版年月

2007年10月

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

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DOI