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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Interfacial Defects atβ/α”Interface in Ti-Nb Shape Memory Alloys 
著者
和文: Y.W.Chai, H.Y.Kim, 細田秀樹, 宮崎 修一.  
英文: Y.W.Chai, H.Y.Kim, Hideki HOSODA, shuichi miyazaki.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Ti-2007 Science and Technology 
巻, 号, ページ Vol. Ⅱ        pp. 1457-1460
出版年月 2007年6月 
出版者
和文: 
英文:The Japan Institute of Metals 
会議名称
和文: 
英文:Ti-2007 Science and Technology 
開催地
和文: 
英文:Kyoto International Conference Center 

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