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論文・著書情報
タイトル
和文:
英文:
Interfacial Defects atβ/α”Interface in Ti-Nb Shape Memory Alloys
著者
和文:
Y.W.Chai,
H.Y.Kim
,
細田秀樹
,
宮崎 修一
.
英文:
Y.W.Chai,
H.Y.Kim
,
Hideki HOSODA
,
shuichi miyazaki
.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
英文:
Ti-2007 Science and Technology
巻, 号, ページ
Vol. Ⅱ pp. 1457-1460
出版年月
2007年6月
出版者
和文:
英文:
The Japan Institute of Metals
会議名称
和文:
英文:
Ti-2007 Science and Technology
開催地
和文:
英文:
Kyoto International Conference Center
©2007
Institute of Science Tokyo All rights reserved.