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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:On the Fault Testing for Reversible Circuits 
著者
和文: 田湯 智, 伊東 滋, 上野修一.  
英文: Satoshi Tayu, Shigeru Ito, Shuichi UENO.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Technical Report of the IPSJ 
巻, 号, ページ Vol. 2007    No. 66    pp. 25-30
出版年月 2007年7月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:情報処理学会アルゴリズム研究会 
開催地
和文:京都大学 
英文:Kyoto Univ. 
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