【重要】T2R2・STARSearchの停止と後継システムについて English

Home > ヘルプ 論文・著書情報 タイトル 和文:   英文: On the Fault Testing for Reversible Circuits  著者 和文: 田湯 智, 伊東 滋, 上野修一.   英文: Satoshi Tayu, Shigeru Ito, Shuichi UENO.   言語 English  掲載誌/書名 和文:   英文: Technical Report of the IPSJ  巻, 号, ページ Vol. 2007    No. 66    pp. 25-30 出版年月 2007年7月  出版者 和文:   英文:   会議名称 和文:   英文: 情報処理学会アルゴリズム研究会  開催地 和文: 京都大学  英文: Kyoto Univ.  アブストラクト null

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