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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:On the Fault Testing for Reversible Circuits 
著者
和文: 田湯 智, 伊東 滋, 上野修一.  
英文: Satoshi Tayu, Shigeru Ito, Shuichi UENO.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Lecture Notes in Computer Science 
巻, 号, ページ Vol. 4835        pp. 812-821
出版年月 2007年12月 
出版者
和文: 
英文:Springer Verlarg 
会議名称
和文: 
英文:International Computing and Combinatorics Conference 
開催地
和文:仙台 
英文:Sendai, Japan 
DOI https://doi.org/10.1007/978-3-540-77120-3_70

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