Impact of key circuit parameters onsignal-to-noise ratio characteristics for theradio-frequency single electron transistors

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Impact of key circuit parameters onsignal-to-noise ratio characteristics for theradio-frequency single electron transistors

著者

和文:	MURUGANATHAN MANOHARAN, プルボストベンジャミン, 水田博, 小田俊理.
英文:	M. Manoharan, Benjamin Henri Jose Pruvost, Hiroshi Mizuta, Shunri Oda.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	IEEE Transactions on Nanotechnology

巻, 号, ページ

Vol. 7 No. 8

出版年月

2008年5月

出版者

和文:
英文:

会議名称

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開催地

和文:
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DOI