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論文・著書情報


タイトル
和文:On Fault Testing for Reversible Circuits 
英文:On Fault Testing for Reversible Circuits 
著者
和文: 田湯 智, 伊東 滋, 上野修一.  
英文: Satoshi Tayu, Shigeru Ito, Shuichi UENO.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文:電子情報通信学会英語論文誌D 
英文:IEICE Trans. Information and Systems 
巻, 号, ページ Vol. E91-D    No. 12    pp. 2770-2775
出版年月 2008年12月 
出版者
和文: 
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会議名称
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開催地
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DOI https://doi.org/10.1093/ietisy/e91-d.12.2770

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