A MOS transistor array with pico-ampere order precision for accurate characterization of leakage current variation

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	A MOS transistor array with pico-ampere order precision for accurate characterization of leakage current variation

著者

和文:	佐藤高史, 植山寛之, 中山範明, 益一哉.
英文:	Takashi Sato, Hiroyuki Ueyama, Noriaki Nakayama, Kazuya Masu.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	IEEE Asian solid-state circuit conference (ASSCC)

巻, 号, ページ

pp. 389-392

出版年月

2008年11月

出版者

和文:
英文:	IEEE Asian solid-state circuit conference (ASSCC)

会議名称

和文:
英文:	IEEE Asian solid-state circuit conference (ASSCC)

開催地

和文:
英文:	Taipei, Taiwan

DOI