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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Electro-Thermal Analysis of Submicron Si MOSFET with Zoned Mesh Based on Semiconductor Physics Theory 
著者
和文: 畠山友行, 岡崎健, 伏信一慶.  
英文: Tomoyuki Hatakeyama, KEN OKAZAKI, KAZUYOSHI FUSHINOBU.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2008年 
出版者
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会議名称
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開催地
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