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論文・著書情報


タイトル
和文:Error Control Coding for Multilevel Cell Flash Memories Using Nonbinary Low-Density Parity-Check Codes 
英文:Error Control Coding for Multilevel Cell Flash Memories Using Nonbinary Low-Density Parity-Check Codes 
著者
和文: 前田遊, 金子晴彦.  
英文: Yuu maeda, Haruhiko Kaneko.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文:Proc. 2009 IEEE Int. Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems 
英文:Proc. 2009 IEEE Int. Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems 
巻, 号, ページ         pp. 367-375
出版年月 2009年10月 
出版者
和文: 
英文:IEEE 
会議名称
和文: 
英文:2009 IEEE Int. Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems 
開催地
和文: 
英文:Chicago, USA 
DOI https://doi.org/10.1109/DFT.2009.25

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