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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Impact of the Device Design on Electro-Thermal Properties of Si Devices 
著者
和文: 畠山 友行, 伏信 一慶, 岡崎 健.  
英文: T. Hatakeyama, K. Fushinobu, K. Okazaki.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ     No. F213   
出版年月 2008年10月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:TFEC2008 
開催地
和文: 
英文:Sapporo 

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