pinダイオードモデルにおけるライフタイム分布の影響

論文・著書情報

タイトル

和文:	pinダイオードモデルにおけるライフタイム分布の影響
英文:	Effect of Carrier Lifetime Zoning on pin Diode Model

著者

和文:	遠山喬, 冨永真志, 漆畑廣明, 藤田英明, 赤木泰文, 木ノ内伸一, 大井健史.
英文:	Takashi Toyama, Shinji Tominaga, hiroaki urushibata, Hideaki Fujita, Hirofumi Akagi, 木ノ内伸一, 大井健史.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	電気学会産業応用部門大会
英文:	IEEJ Japan Industry Application Society Conference

巻, 号, ページ

Vol. 1 pp. 415-418

出版年月

2009年8月

出版者

和文:	電気学会
英文:	Institute of Electrical Engineering in Japan

会議名称

和文:	産業応用部門大会
英文:	Industry Application Society Conference

開催地

和文:	三重大学
英文:	Mie University