適応型テストにおけるクリティカルパスのクラスタリング手法

論文・著書情報

タイトル

和文:	適応型テストにおけるクリティカルパスのクラスタリング手法
英文:	Critical-Path Clustering for Adaptive Test

著者

和文:	上薗巧, 高橋知之, 植山寛之, 新谷道広, 佐藤高史, 益一哉.
英文:	Takumi Uezono Tomoyuki Takahashi Hiroyuki Ueyama Michihiro Shintani Takashi Sato Kazuya Masu, Tomoyuki Takahashi, Hiroyuki Ueyama, Michihiro Shintani, Takashi Sato, Kazuya Masu.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	2009 年電子情報通信学会総合大会
英文:

巻, 号, ページ

D-10-17 p. 160

出版年月

2009年3月

出版者

和文:	電子情報通信学会
英文:

会議名称

和文:	2009 年電子情報通信学会総合大会
英文:

開催地

和文:	愛媛大学
英文: