Heat generation characteristics in Si MOSFETs for the device-level thermal management - Effect of the device scaling and transport properties

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Heat generation characteristics in Si MOSFETs for the device-level thermal management - Effect of the device scaling and transport properties

著者

和文:	山本泰史, 畠山友行, 伏信一慶, 岡崎健.
英文:	Yasufumi Yamamoto, T. Hatakeyama, K. Fushinobu, K. Okazaki.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Proc. 7th CHE Conference

巻, 号, ページ

CHE2009-23

出版年月

2009年9月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	7th CHE Conference

開催地

和文:
英文:	Heredia, Costa Rica