Ｘ線光電子分光法を用いたセラミックス粉末表面の化学状態分析に関する研究 | T2R2 東京工業大学リサーチリポジトリ

論文・著書情報

タイトル

和文:	Ｘ線光電子分光法を用いたセラミックス粉末表面の化学状態分析に関する研究
英文:

著者

和文:	亀島欣一.
英文:	YOSHIKAZU KAMESHIMA.

種別

種別:	学位論文(博士)
国名:	日本

言語

Japanese

学位授与組織

東京工業大学

報告番号

乙第3513号

学位授与日

2001/03/31

審査員

岡田清.

ファイル

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