X線光電子分光法による酸化物ガラス中のO1s電子の状態の解析 | T2R2 東京科学大学リサーチリポジトリ

論文・著書情報

タイトル

和文:	X線光電子分光法による酸化物ガラス中のO1s電子の状態の解析
英文:

著者

和文:	瀬川浩代.
英文:	Hiroyo Segawa.

種別

種別:	学位論文(博士)
国名:	日本

言語

Japanese

学位授与組織

東京工業大学

報告番号

甲第4306号

学位授与日

2000/03/26

審査員

山根正之.

ファイル

(Organization name: Tokyo Institute of Technology)

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