Home >

news ヘルプ

論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Analysis of the Dynamic Behavior of a Self-Commutated BTB System During Line Faults 
著者
和文: ファムフォン ヴィェト, 萩原誠, 赤木泰文.  
英文: Viet Phuong Pham, Makoto Hagiwara, Hirofumi Akagi.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:IEEE Transactions on Power Electronics 
巻, 号, ページ Vol. 25    No. 2    pp. 322-330
出版年月 2010年2月 
出版者
和文: 
英文:IEEE 
会議名称
和文: 
英文: 
開催地
和文: 
英文: 
DOI https://doi.org/10.1109/TPEL.2009.2027325

©2007 Tokyo Institute of Technology All rights reserved.