【重要】T2R2・STARSearchの停止と後継システムについて English

Home > ヘルプ 論文・著書情報 タイトル 和文:   英文: An Adaptive Test for Parametric Faults Based on Statistical Timing Information  著者 和文: 新谷 道広, 上薗 巧, 高橋 知之, 植山 寛之, 佐藤 高史, 畠山一実, 相京 隆, 益 一哉.   英文: Michihiro Shintani, Takumi Uezono, Tomoyuki Takahashi, Hiroyuki Ueyama, Takashi Sato, Kasumi Hatayama, Takashi Aikyo, Kazuya Masu.   言語 English  掲載誌/書名 和文:   英文: IEEE Asian Test Symposium  巻, 号, ページ         pp. 151-156 出版年月 2009年11月  出版者 和文:   英文: IEEE Asian Test Symposium  会議名称 和文:   英文: IEEE Asian Test Symposium  開催地 和文:   英文: Taichung,Taiwan  DOI https://doi.org/10.1109/ATS.2009.90

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