Robust importance sampling for efficient SRAM yield analysis

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Robust importance sampling for efficient SRAM yield analysis

著者

和文:	伊達貴徳, 萩原汐, 益一哉, 佐藤高史.
英文:	Takanori Date, Shiho Hagiwara, Kazuya Masu, Takashi Sato.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)

巻, 号, ページ

pp. 15-21

出版年月

2010年3月

出版者

和文:
英文:	International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)

会議名称

和文:
英文:	International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)

開催地

和文:
英文:	San Jose, USA

DOI