Variability-Tolerant CMOS Gates Using Functional MOSFETs with Resistive Switching Devices

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Variability-Tolerant CMOS Gates Using Functional MOSFETs with Resistive Switching Devices

著者

和文:	周藤悠介, 山本修一郎, 菅原聡.
英文:	Y. Shuto, S. Yamamoto, S. Sugahara.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

pp. 810-811

出版年月

2009年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	Extended Abstracts of the 2009 International Conference on Solid State Devices and Materials

開催地

和文:
英文:	Sendai, Japan