Scan Based Process Parameter Estimation Through Path-Delay Inequalities

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Scan Based Process Parameter Estimation Through Path-Delay Inequalities

著者

和文:	上薗巧, 高橋知之, 新谷道広, Kazumi Hatayama, 益一哉, 越智裕之, 佐藤高史.
英文:	Takumi Uezono, Tomoyuki Takahashi, Michihiro Shintani, Kazumi Hatayama, Kazuya Masu, Hiroyuki Ochi, Takashi Sato.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 2010)

巻, 号, ページ

出版年月

2010年6月

出版者

和文:
英文:	IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 2010)

会議名称

和文:
英文:	IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 2010)

開催地

和文:
英文:	Paris, France

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DOI