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論文・著書情報
タイトル
和文:
英文:
Evolution of Internal Stress and Influence on Dielectric Properties by Number of Dielectric Layers in MLCC
著者
和文:
横溝 聡史
,
保科 拓也
,
武田 博明
, Katsuya Taniguchi, Youichi Mizuno, Hirokazu Chazono,
櫻井 修
,
鶴見 敬章
.
英文:
Satoshi Yokomizo
,
Takuya Hoshina
,
Hiroaki Takeda
, Katsuya Taniguchi, Youichi Mizuno, Hirokazu Chazono,
Osamu Sakurai
,
Takaaki Tsurumi
.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
英文:
Key Engineering Materials
巻, 号, ページ
Vol. 445 pp. 31-34
出版年月
2010年6月
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
英文:
開催地
和文:
英文:
DOI
https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/KEM.445.31
©2007
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