High-throughput Evaluation of Crystallization Temperature of Pd-Cu-Si System Using Integrated Thin Film Samples

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	High-throughput Evaluation of Crystallization Temperature of Pd-Cu-Si System Using Integrated Thin Film Samples

著者

和文:	青野祐子, 櫻井淳平, 下河邉明, 秦誠一.
英文:	Yuko Aono, Junpei Sakurai, Akira Shimokohbe, Seiichi Hata.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Materials Science Forum

巻, 号, ページ

Vol. 654-656 pp. 2426-2429

出版年月

2010年8月

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

和文:
英文:

DOI