Universal Test Sets for Reversible Circuits

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Universal Test Sets for Reversible Circuits

著者

和文:	田湯智, Shota Fukuyama, 上野修一.
英文:	Satoshi Tayu, Shota Fukuyama, Shuichi UENO.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Technical Report of the IEICE

巻, 号, ページ

Vol. 109 No. 300 pp. 59-64

出版年月

2009年11月

出版者

和文:
英文:	Institute of Electronics, Information and Communication Engineers

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文:	Nagoya Univ.