De-Embedding Method Using an Electromagnetic Simulator for Characterization of Transistors in the Millimeter-Wave Band

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	De-Embedding Method Using an Electromagnetic Simulator for Characterization of Transistors in the Millimeter-Wave Band

著者

和文:	平野拓一, 中野洋, 平地康剛, 廣川二郎, 安藤真.
英文:	Takuichi Hirano, Hiroshi Nakano, Yasutake Hirachi, Jiro Hirokawa, Makoto Ando.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	IEEE Trans. MTT

巻, 号, ページ

Vol. 58 No. 10 pp. 2663-2672

出版年月

2010年10月

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

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DOI