Home >

news ヘルプ

論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Experimental study on carrier transport limiting phenomena in 10 nm width nanowire CMOS transistors 
著者
和文: 舘喜一, M. Casse, S. Barraud, C. Dupre, A. Hubert, N. Vulliet, M.E. Faivre, C. Vizioz, C. Carabasse, V. Delaye, J.M. Hartmann, 岩井洋, S. Cristoloveanu, O. Faynot, T. Ernst.  
英文: Kiichi Tachi, M. Casse, S. Barraud, C. Dupre, A. Hubert, N. Vulliet, M.E. Faivre, C. Vizioz, C. Carabasse, V. Delaye, J.M. Hartmann, HIROSHI IWAI, S. Cristoloveanu, O. Faynot, T. Ernst.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2010年12月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:2010 IEDM 
開催地
和文: 
英文:San Francisco, USA 

©2007 Institute of Science Tokyo All rights reserved.