A Carrier Leakage Auto-Calibration Circuit with a Direct DC-Offset Comparison Technique for a WiMAX Transmitter

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	A Carrier Leakage Auto-Calibration Circuit with a Direct DC-Offset Comparison Technique for a WiMAX Transmitter

著者

和文:	Hiroyuki Nakamoto, Masahiro Kudo, 伊藤浩之, Daisuke Yamazaki.
英文:	Hiroyuki Nakamoto, Masahiro Kudo, Hiroyuki Ito, Daisuke Yamazaki.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

pp. 91-92

出版年月

2010年1月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:	IEEE Symposium on VLSI Circuits
英文:

開催地

和文:	米国ハワイ
英文:	Hawai'i, USA