Measurement of Integrated PA-to-LNA Isolation on Si CMOS Chip

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Measurement of Integrated PA-to-LNA Isolation on Si CMOS Chip

著者

和文:	南亮, 洪芝英, 今西大輔, 岡田健一, 松澤昭.
英文:	Ryo Minami, JeeYoung Hong, Daisuke Imanishi, Kenichi Okada, Akira Matsuzawa.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2010年12月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	IEEE Asia-Pacific Microwave Conference (APMC)

開催地

和文:
英文:	"Yokohama,Japan"