Successful measurements of Electron energy dependence of interface-trap-induced scattering in N-MOSFETs,

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Successful measurements of Electron energy dependence of interface-trap-induced scattering in N-MOSFETs,

著者

和文:	S. Kobayashi, T. Ishihara, M. Saitoh, Y. Nakabayashi, T. Numata, 内田建.
英文:	S. Kobayashi, T. Ishihara, M. Saitoh, Y. Nakabayashi, T. Numata, K. Uchida.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

pp. 26-30

出版年月

2009年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	IEEE International Reliability Physics Symposium

開催地

和文:
英文: