English
Home
各種検索
研究業績検索
論文・著書検索
( 詳細検索 )
特許検索
( 詳細検索 )
研究ハイライト検索
( 詳細検索 )
研究者検索
組織・担当から絞り込む
サポート
よくあるご質問(FAQ)
T2R2登録申請
学位論文登録について
組織単位データ出力について
(学内限定)
サポート・問合せ
T2R2について
T2R2とは?
運用指針
リーフレット
本文ファイルの公開について
関連リンク
東京科学大学
東京科学大学STARサーチ
国立情報学研究所(学術機関リポジトリ構築連携支援事業)
Home
>
ヘルプ
論文・著書情報
タイトル
和文:
英文:
Pd Schottky gate operation voltage of Si/SiGe quantum-point-contact
著者
和文:
福岡 佑二
,
小寺 哲夫
, T. Otsuka, K. Takeda, T. Obata, K. Yoshida, K. Sawano,
内田 建
, Y. Shiraki, S. Tarucha,
小田 俊理
.
英文:
Y. Fukuoka
,
T. Kodera
, T. Otsuka, K. Takeda, T. Obata, K. Yoshida, K. Sawano,
K Uchida
, Y. Shiraki, S. Tarucha,
S. Oda
.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
英文:
巻, 号, ページ
No. 5-17
出版年月
2011年6月
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
英文:
IEEE Silicon Nanoelectronics Workshop
開催地
和文:
英文:
Kyoto
©2007
Institute of Science Tokyo All rights reserved.