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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Pd Schottky gate operation voltage of Si/SiGe quantum-point-contact 
著者
和文: 福岡 佑二, 小寺 哲夫, T. Otsuka, K. Takeda, T. Obata, K. Yoshida, K. Sawano, 内田 建, Y. Shiraki, S. Tarucha, 小田 俊理.  
英文: Y. Fukuoka, T. Kodera, T. Otsuka, K. Takeda, T. Obata, K. Yoshida, K. Sawano, K Uchida, Y. Shiraki, S. Tarucha, S. Oda.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ     No. 5-17   
出版年月 2011年6月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:IEEE Silicon Nanoelectronics Workshop 
開催地
和文: 
英文:Kyoto 

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