Direct Real-Time Observation of Channel Potential Fluctuation, Correlated to Random Telegraph Noise of Drain Current Using Nanowire MOSFETs with Four-Probe Terminals

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Direct Real-Time Observation of Channel Potential Fluctuation, Correlated to Random Telegraph Noise of Drain Current Using Nanowire MOSFETs with Four-Probe Terminals

著者

和文:	大毛利健二, W. Feng, 佐藤創志, R. Hettiarachchi, M. Sato, T. Matsuki, 角嶋邦之, 岩井洋, 山田啓作.
英文:	Kenji Ohmori, W. Feng, Soshi Sato, R. Hettiarachchi, M. Sato, T. Matsuki, Kuniyuki KAKUSHIMA, HIROSHI IWAI, Keisaku Yamada.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2011年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	2011 Symposium on VLSI Technology

開催地

和文:	京都
英文: