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論文・著書情報
タイトル
和文:
英文:
Efficient Method to Measure IMD of Power Amplifier with Simplified Phase Determination Procedure to Clarify Memory Effect Origins
著者
和文:
大石泰丈
,
荒木純道
,
S. Kimura
,
M. Nakamura
,
K. Nagai
,
E. Fukuda
,
Y. Daio
.
英文:
Yasutake Ohishi
,
Kiyomichi Araki
,
S. Kimura
,
M. Nakamura
,
K. Nagai
,
E. Fukuda
,
Y. Daio
.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
英文:
IEICE Transaction on Electronics
巻, 号, ページ
vol. E93-C no. 7 pp. 991-999
出版年月
2010年7月
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
英文:
開催地
和文:
英文:
DOI
https://doi.org/10.1587/transele.E93.C.991
©2007
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