English
Home
各種検索
研究業績検索
論文・著書検索
( 詳細検索 )
特許検索
( 詳細検索 )
研究ハイライト検索
( 詳細検索 )
研究者検索
組織・担当から絞り込む
サポート
よくあるご質問(FAQ)
T2R2登録申請
学位論文登録について
組織単位データ出力について
(学内限定)
サポート・問合せ
T2R2について
T2R2とは?
運用指針
リーフレット
本文ファイルの公開について
関連リンク
東京科学大学
東京科学大学STARサーチ
国立情報学研究所(学術機関リポジトリ構築連携支援事業)
Home
>
ヘルプ
論文・著書情報
タイトル
和文:
英文:
Imaging Nanoscale Electronic Inhomogeneity in the Lightly Doped Mott Insulator Ca2-xNaxCuO2Cl2
著者
和文:
幸坂 祐生
, K. Iwaya, S. Satow,
花栗 哲郎
,
東 正樹
,
高野 幹夫
,
高木 英典
.
英文:
Yuhki Kousaka
, K. Iwaya, S. Satow,
Tetsuo Hanaguri
,
M. Azuma
,
M. Takano
,
H. Takagi
.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
英文:
Phys. Rev. Lett.
巻, 号, ページ
Vol. 93 No. 9 pp. 097004-1-097004-4
出版年月
2004年
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
英文:
開催地
和文:
英文:
©2007
Institute of Science Tokyo All rights reserved.