Iterative Determination of Phase Reference in IMD Measurement to Characterize Nonlinear Behavior, and to Derive Inverse, for Power Amplifier with Memory Effect

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Iterative Determination of Phase Reference in IMD Measurement to Characterize Nonlinear Behavior, and to Derive Inverse, for Power Amplifier with Memory Effect

著者

和文:	大石泰之, 木村しげかず, 福田えいすけ, 高野健, だいどうよしまさ, 荒木純道.
英文:	Yasuyuki Oishi, Shigekazu Kimura, Eisuke Fukuda, Takeshi Takano, Yoshimasa Daido, Kiyomichi Araki.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	IEICE Transaction on Electronics

巻, 号, ページ

Vol. E94-C No. 10 pp. 1515-1523

出版年月

2011年10月

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

和文:
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DOI