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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Analytical Surface Potential Expression for Double-Gate SOI MOS FETS 
著者
和文: 鈴木 邦広, 田中 徹, 堀江 博, 有本 由弘, 伊藤 隆司.  
英文: Kunihiro Suzuki, Tetsu Tanaka, Hiroshi Horie, Yoshihiro Arimoto, Takashi Ito.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Proc. Int. Workshop on VLSI Process and Device Modeling 
巻, 号, ページ         pp. 150-151
出版年月 1993年 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:Proc. Int. Workshop on VLSI Process and Device Modeling 
開催地
和文: 
英文:Florida 

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