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論文・著書情報
タイトル
和文:
英文:
Analytical Surface Potential Expression for Double-Gate SOI MOS FETS
著者
和文:
鈴木 邦広
,
田中 徹
,
堀江 博
,
有本 由弘
,
伊藤 隆司
.
英文:
Kunihiro Suzuki
,
Tetsu Tanaka
,
Hiroshi Horie
,
Yoshihiro Arimoto
,
Takashi Ito
.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
英文:
Proc. Int. Workshop on VLSI Process and Device Modeling
巻, 号, ページ
pp. 150-151
出版年月
1993年
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
英文:
Proc. Int. Workshop on VLSI Process and Device Modeling
開催地
和文:
英文:
Florida
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