物理モデルに基づく並列接続pinダイオードのリカバリー特性解析

論文・著書情報

タイトル

和文:	物理モデルに基づく並列接続pinダイオードのリカバリー特性解析
英文:	Reverse-Recovery Analysis of Parallel-Connected pin Diodes Using a Physics-Based Device Model

著者

和文:	堀口剛司, 杉本貴之, 冨永真志, 漆畑廣明, 藤田英明, 赤木泰文, 木ノ内伸一, 大井健史.
英文:	Takeshi Horiguchi, Takayuki Sugimoto, Shinji Tominaga, Hiroaki Urushibata, Hideaki Fujita, Hirofumi Akagi, Shinichi Kinouchi, Takeshi Oi.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	電気学会論文誌D
英文:	IEEJ Trans. IA

巻, 号, ページ

vol. 132 no. 5 pp. 566-573

出版年月

2012年5月1日

出版者

和文:	電気学会
英文:	Institute of Electrical Engineering in Japan

会議名称

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開催地

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