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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Measurement of Sidewall Roughness of InP Etched by Reactive Ion Beam Etching 
著者
和文: 松谷晃宏, 小山二三夫, 伊賀健一.  
英文: Akihiro Matsutani, FUMIO KOYAMA, Kenichi Iga.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Jpn. J. Appl. Phys. 
巻, 号, ページ Vol. 33    No. 12A    pp. 6737-6738
出版年月 1994年12月 
出版者
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会議名称
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開催地
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英文: 
DOI https://doi.org/10.1143/JJAP.33.6737

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