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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Characterization of Cu(InGa)Se2 grain boundary properties by electron- and tip-probe methods 
著者
和文: 大西 智, 川村 昌弘, Naoaki Takano, Daisuke Hashimoto, 山田 明, 小長井 誠.  
英文: Satoshi Oonishi, Masahiro Kawamura, Naoaki Takano, Daisuke Hashimoto, Akira Yamada, Makoto Konagai.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:THIN SOLID FILMS 
巻, 号, ページ Vol. 519    No. 21 SI    pp. 7347-7350
出版年月 2011年8月27日 
出版者
和文: 
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会議名称
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開催地
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英文: 
DOI https://doi.org/10.1016/j.tsf.2010.12.223

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