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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Carrier Propagation Dependence on Applied Potentials in OFET Investigated by Impedance Spectroscopy 
著者
和文: LIN JACK, Weis Martin, 田口 大, 間中 孝彰, 岩本 光正.  
英文: J. Lin, M. Weis, D. Taguchi, T. Manaka, M. Iwamoto.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Physics Procedia 
巻, 号, ページ Vol. 14        pp. 187-191
出版年月 2011年7月 
出版者
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会議名称
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開催地
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英文: 
DOI https://doi.org/10.1016/j.phpro.2011.05.038

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