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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Physical Mechanism of Enhanced Uniaxial Stress Effect on Carrier Mobility in ETSOI MOSFETs 
著者
和文: 大橋 輝之, 小田 俊理, 内田 建.  
英文: Teruyuki Ohashi, Shunri Oda, Ken Uchida.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ Vol. 50 (9)        pp. 171-174
出版年月 2012年 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:ECS Transactions 
開催地
和文: 
英文:Honolulu 

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