English
Home
各種検索
研究業績検索
論文・著書検索
( 詳細検索 )
特許検索
( 詳細検索 )
研究ハイライト検索
( 詳細検索 )
研究者検索
組織・担当から絞り込む
サポート
よくあるご質問(FAQ)
T2R2登録申請
学位論文登録について
組織単位データ出力について
(学内限定)
サポート・問合せ
T2R2について
T2R2とは?
運用指針
リーフレット
本文ファイルの公開について
関連リンク
東京科学大学
東京科学大学STARサーチ
国立情報学研究所(学術機関リポジトリ構築連携支援事業)
Home
>
ヘルプ
論文・著書情報
タイトル
和文:
英文:
Electronic structures of hole-doped perovskite nickelate Sm1-xCaxNiO3 thin films studied by hard x-ray photoemission spectroscopy
著者
和文:
吉松公平
,
坂井 延寿
,
Xiang P. -H.
,
浅沼 周太郎
,
山田 浩之
,
澤 彰人
,
池永 英司
,
堀場 弘司
,
尾嶋 正治
,
組頭 広志
.
英文:
K. Yoshimatsu
,
E. Sakai
,
P. -H. Xiang
,
S. Asanuma
,
H. Yamada
,
A. Sawa
,
E. Ikenaga
,
K. Horiba
,
Masaharu Oshima
,
H. Kumigashira
.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
英文:
巻, 号, ページ
B-14
出版年月
2012年10月2日
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
英文:
The 19th International Workshop on Oxides Electronics
開催地
和文:
英文:
Appeldoorn
©2007
Institute of Science Tokyo All rights reserved.