シリコン量子ドットを用いた電荷検出

論文・著書情報

タイトル

和文:	シリコン量子ドットを用いた電荷検出
英文:

著者

和文:	小寺哲夫, 堀部浩介, 林文城, 蒲原知宏, T. Ferrus, A. Rossi, 内田建, D. A. Williams, 荒川泰彦, 小田俊理.
英文:	Tetsuo Kodera, kousuke Horibe, Wencheng Lin, Tomohiro Kambara, T Ferrus, A. Rossi, Ken Uchida, David A. Williams, Yasuhiko Arakawa, SHUNRI ODA.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:
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巻, 号, ページ

出版年月

2012年3月

出版者

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会議名称

和文:	日本物理学会2012年年次大会
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開催地

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