Experimental Study on Electron Mobility in Accumulation-Mode Silicon-on-Insulator Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistors

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Experimental Study on Electron Mobility in Accumulation-Mode Silicon-on-Insulator Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistors

著者

和文:	角谷直哉, 大橋輝之, 高橋綱己, 小田俊理, 内田建.
英文:	N. Kadotani, T. Ohashi, T. Takahashi, S. Oda, K. Uchida.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Japanese Journal of Applied Physics

巻, 号, ページ

Vol. 50 pp. 094101 (7 pages)

出版年月

2011年9月

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

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DOI