Interface state density measurements of 3D silicon channel by charge pumping method

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Interface state density measurements of 3D silicon channel by charge pumping method

著者

和文:	LiWei, 角嶋邦之, パールハットアヘメト, 西山彰, 杉井信之, 筒井一生, 名取研二, 服部健雄, 岩井洋.
英文:	Wei Li, Kuniyuki KAKUSHIMA, パールハットアヘメト, Akira Nishiyama, 杉井信之, KAZUO TSUTSUI, Kenji Natori, takeo hattori, HIROSHI IWAI.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2013年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	G-COE PICE International Symposium and IEEE EDS Minicolloquium on Advanced Hybrid Nano Devices: Prospects by World’s Leading Scientists

開催地

和文:	東京
英文: