Home >

news ヘルプ

論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Low-frequency noise reduction in Si Nanowire MOSFETs 
著者
和文: 大毛利健治, W. Feng, R. Hettiarachchi, 李映勲, 佐藤創志, 角嶋邦之, M. Sato, K. Fukuda, M. Niwa, K. Yamabe, 白石賢二, 岩井洋, 山田啓作.  
英文: 大毛利健治, W. Feng, R. Hettiarachchi, Yeonghun Lee, Soshi Sato, Kuniyuki KAKUSHIMA, M. Sato, K. Fukuda, M. Niwa, K. Yamabe, Kenji Shiraishi, HIROSHI IWAI, Keisaku Yamada.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:ECS Transactions 
巻, 号, ページ Vol. 45    No. 3    pp. 437-442
出版年月 2012年 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:ECS 221st Meeting 
開催地
和文: 
英文:WA 
DOI https://doi.org/10.1149/1.3700909

©2007 Tokyo Institute of Technology All rights reserved.