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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Thickness dependent electrical characteristics of AlGaN/GaN MOSHEMT with La2O3 gate dielectrics 
著者
和文: 陳江寧, 常石佳奈, 角嶋邦之, パールハットアヘメト, 片岡好則, 西山彰, 杉井信之, 筒井一生, 名取研二, 服部健雄, 岩井洋.  
英文: Jiangning Chen, Kana Tsuneishi, Kuniyuki KAKUSHIMA, パールハットアヘメト, 片岡好則, Akira Nishiyama, Nobuyuki Sugii, KAZUO TSUTSUI, Kenji Natori, takeo hattori, HIROSHI IWAI.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:ECS Transactions 
巻, 号, ページ Vol. 50    No. 3    pp. 353-357
出版年月 2012年 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:ECS 222nd Meeting 
開催地
和文: 
英文:Honolulu, Hawaii 
DOI https://doi.org/10.1149/05003.0353ecst

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