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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Influence of Structural Parameters on Electrical Characteristics of Schottky Tunneling Field-Effect Transistor and Its Scalability 
著者
和文: 呉研, 竇春萌, F. Wei, 角嶋邦之, 大毛利健治, パールハットアヘメト, T. Watanabe, 筒井一生, 西山彰, 杉井信之, 名取研二, 山田啓作, 片岡好則, 服部健雄, 岩井洋.  
英文: Y. Wu, 竇春萌, F. Wei, Kuniyuki KAKUSHIMA, 大毛利健治, パールハットアヘメト, T. Watanabe, KAZUO TSUTSUI, Akira Nishiyama, Nobuyuki Sugii, Kenji Natori, Keisaku Yamada, 片岡好則, takeo hattori, HIROSHI IWAI.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Japanese Journal of Applied Physics 
巻, 号, ページ Vol. 52    No. 4S    pp. 04CC28-1-04CC28-5
出版年月 2013年4月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文: 
開催地
和文: 
英文: 
DOI https://doi.org/10.7567/JJAP.52.04CC28

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