Home >

news ヘルプ

論文・著書情報


タイトル
和文:Array Codes Correcting a Cluster of Unidirectional Errors for Two-Dimensional Matrix Symbols 
英文:Array Codes Correcting a Cluster of Unidirectional Errors for Two-Dimensional Matrix Symbols 
著者
和文: 金子晴彦, 藤原英二.  
英文: Haruhiko Kaneko, EIJI FUJIWARA.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文:Proc. 2003 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems 
英文:Proc. 2003 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems 
巻, 号, ページ         pp. 242-249
出版年月 2003年11月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文: 
開催地
和文: 
英文: 
DOI https://doi.org/10.1109/DFTVS.2003.1250118

©2007 Tokyo Institute of Technology All rights reserved.