A study on interface traps and near interfacial bulk traps at the interfaces of dielectric/semiconductor and semiconductor heterojunction

論文・著書情報

タイトル

和文:	誘電体/半導体と半導体ヘテロ接合界面における界面トラップおよび界面近傍のバルクトラップに関する研究
英文:	A study on interface traps and near interfacial bulk traps at the interfaces of dielectric/semiconductor and semiconductor heterojunction

著者

和文:	竇春萌.
英文:	Chunmeng Dou.

種別

種別:	学位論文(博士)
国名:	Japan

言語

English

学位授与組織

Tokyo Institute of Technology

報告番号

甲第9533号

学位授与日

2014/03/26

審査員

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