English
Home
各種検索
研究業績検索
論文・著書検索
( 詳細検索 )
特許検索
( 詳細検索 )
研究ハイライト検索
( 詳細検索 )
研究者検索
組織・担当から絞り込む
サポート
よくあるご質問(FAQ)
T2R2登録申請
学位論文登録について
組織単位データ出力について
(学内限定)
サポート・問合せ
T2R2について
T2R2とは?
運用指針
リーフレット
本文ファイルの公開について
関連リンク
東京科学大学
東京科学大学STARサーチ
国立情報学研究所(学術機関リポジトリ構築連携支援事業)
Home
>
ヘルプ
論文・著書情報
タイトル
和文:
CaF
2
/Si(111)基板上ZnO薄膜のN.Gaコドーピング法による不純物制御
英文:
Inpurity control of eptaxial ZnO thin films grown on CaF
2
/Si(111) by N, Ga codoping
著者
和文:
岡野俊一, 鈴木充典,
渡辺正裕
.
英文:
S. Okano, M. Suzuki,
M. Watanabe
.
言語
Japanese
掲載誌/書名
和文:
英文:
巻, 号, ページ
31a-YL-3 3 1438
出版年月
2001年3月31日
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
第48回応用物理学会関係連合講演会
英文:
The 48th Spring Meeting of The Jpn. Soc. Of Appl. Phys. And Related Societies
開催地
和文:
東京都
英文:
Tokyo
©2007
Institute of Science Tokyo All rights reserved.